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開關使用中可能出現的故障


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    開關使用中可能出現的故障

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     1. 使用初期的故障

    以遠距離光電開關、等為主體的檢測開關,半導體一般會在使用初期發生故障。

    其原因是使用在回路中的半導體,在製造中受到種種應力而導致在使用開始後的短期內發生破損;另外,功率比半導體低的電阻、電容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發生時間,根據製造方法的不同而不同,不能一概而論,一般多發生在使用開始後的一星期到10天內。

    2. 偶發故障

    包括由於半導體部件的不良而引起的故障,電阻、電容的斷線、短路、容量不足,電路板的電路斷裂、帶焊料等的不良現象,但發生率極低。接近開關經常發生故障時,可以考慮為使用環境的問題,可向碩方詢問相關。

    3. 負荷短路與配線錯誤

    由於配線錯誤或帶電作業引起負荷短路時,導致大電流流向檢測開關,輸出回路燒毀。作為在檢測開關外進行的保護對策,可使用切斷快速熔斷器短路電流的方法,通過熔斷器進行保護,不僅可保護負荷短路,還對地線有保護作用。但是,由於開關內的輸出晶體管的殘餘容量小,達不到100[%]的效果。

    4. 幹擾波導致的破損

    由幹擾波帶來的破損是慢慢形成的,因此在開始使用後的一個月或二三個月後發生破損是極其普通的。因此,在該期間發生破損時,其原因則可判斷為幹擾波。電感負載開閉時發生的檢測開關的瞬間錯誤動作是由幹擾波造成的。

     
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